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上海天然气地质X荧光检测仪 欢迎来电 上海赢洲科技供应

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***更新: 2020-03-26 01:11:56
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2 X射线荧光光谱技术在地质分析中的应用

       近年来,随着仪器研究技术的发展,X荧光光谱分析的应用领域范围不断拓展,可广泛应用于地质、有色、环保、冶金、商检、卫生、建材等各个领域,下面主要介绍X射线荧光光谱分析在地质分析中的用途,上海天然气地质X荧光检测仪,上海天然气地质X荧光检测仪。

       X射线荧光光谱法(XRF)是地质分析中一种比较成熟的分析技术,该方法对于各种基体成分分析非常有效,测量结果的准确度、精密度和灵敏度较高,上海天然气地质X荧光检测仪,很好地满足了地质分析的要求。目前,XRF已经成为地质样品分析的标准方法。

X射线荧光分析在岩屑录井中的应用研究

【摘要】录井的基本任务是获取准确的岩性资料,然而目前录井对岩性的识别还主要是依赖传统的方法,如借助光学仪器观察获取的定性资料,甚至是直接依靠人的观察。随着水平井钻井技术的迅猛发展,这种方法已经越来越无法满足复杂的油气藏勘探开发的需要。岩屑录井对一种新的更加可靠的地层评价手段的出现提出了迫切要求。本文就拟从x射线荧光分析原理、x射线荧光分析在岩屑录井应用中的可行性以及进一步改进岩屑录井中x射线荧光分析技术的方法,以期加深对这一新技术的认识程度,为获取准确的岩性资料奠定基础。


从表4、表5数据可知,X—荧光分析仪的稳定性和准确性良好。X射线荧光分析仪已在我公司原材料、生料的检验上逐步取代了传统的湿法化学分析方法,为生产准确及时地提供了分析结果,为稳定生料配料、提高熟料质量奠定了坚实的基础。

2.8样品分析中的注意事项:

2.8、1样品制备时,其粉磨时间、添加剂、设定压力和保压时间必须与标定该工作曲线时的状态严格一致,否则会造成粉磨粒度分布不均匀,带来系统的误差,影响分析结果。

2.8、2粉磨不同品种物料时,如果用同一料钵,则必须用待测样品洗磨或是用清水把料钵洗净,否则由于其它物料的污染会产生较大的误差。

2.8、3样品压片前必须均匀布入钢环内,不能出现堆积分布,否则会造成压片密度的局部差异,影响分析结果。

文章来源地址: http://yjkc.chanpin818.com/kcjscl/deta_3580105.html

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