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2.2岩石矿物中主微量元素的高精密度测定
岩石矿物中主微量元素的化学分析不仅工作量大、耗时长，而且操作十分繁重，而采用XRF法结合化学分析方法完成精密度要求很高的岩石全分析可以**简化实验分析过程，并且效果很好。70年代初，人们试图利用当时的条件解决这个问题，试验过薄试样法、粉末压片法和熔融法，上海天然气地质X荧光光谱仪，直到70年代中、后期，硼酸盐熔融制样、基体效应的数学校正及计算机的应用三项关键技术方法的相继解决，上海天然气地质X荧光光谱仪，为X荧光光谱分析技术在岩石和矿物主微量元素分析中的广泛应用奠定了基础，上海天然气地质X荧光光谱仪。此后，用熔融法制样进行硅酸盐岩石分析逐渐为国内岩矿分析工作者所重视。许多研究人员对此做了相关的研究，先后用熔融法测定了硅酸盐岩石中30种元素，并对熔融制样的条件做了进一步试验。
2 X射线荧光光谱技术在地质分析中的应用
近年来，随着仪器研究技术的发展，X荧光光谱分析的应用领域范围不断拓展，可广泛应用于地质、有色、环保、冶金、商检、卫生、建材等各个领域，下面主要介绍X射线荧光光谱分析在地质分析中的用途。
X射线荧光光谱法（XRF）是地质分析中一种比较成熟的分析技术，该方法对于各种基体成分分析非常有效，测量结果的准确度、精密度和灵敏度较高，很好地满足了地质分析的要求。目前，XRF已经成为地质样品分析的标准方法。
【关键词】x射线 荧光分析 岩屑录井 应用
x射线荧光分析技术，**早是由我国地质录井行业学者朱根庆等人经过多年的研究开发出来的，并成功在岩屑录井中得到应用，具有**的知识产权。在对这一技术在岩屑录井中的运用进行探讨之前，需要首先对其原理进行一番说明与阐释。
1x射线荧光分析原理
x射线是一种具有特定波长（通常为0.005～10nm）的电磁波。每一个原子的核外电子在受到x射线的高能粒子束攻击时，会脱离原子核的束缚而释放出来，这些电子释放出来之后所造成的电子空位将会由处于高能量电子壳层的电子来填补，这样能量就会以二次x射线的形式释放出来。这种二次x射线又叫特征x射线或者x射线荧光，它具有物质元素的指纹效应。将x射线应用于岩屑样品时，岩屑就会被激发出具有各种波长的x射线荧光。而为了更清楚地对岩屑中的元素进行定性与定量分析，可以先把混合的x射线按能量或波长分开，然后对不同类型的x射线的强度进行测量，***由计算机对元素的种类和含量进行处理区分即可。具体原理与过程可见下图：
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