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[关键字]XRF分析技术 铀矿地质 未来展望
X射线荧光光谱分析技术是包括铀矿地质在内的行之有效的地质样品分析方法，它是主导铀矿地质分析主、次元素重要手段之一。随着分析仪器研发制造不断进步，其具有自动化高、污染少、分析简便，上海X荧光检测仪、快速、准确度与精密度高等特点，使得X射线荧光光谱分析技术在地质行业中得以不断广泛应用。
1X射线荧光光谱分析技术发展与特点
X射线荧光光谱（XRF）技术于1948年问世，60年代发展了能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF），上海X荧光检测仪，使EDXRF分析样品成为可能，进入80年代各省地质局实验室普遍引进波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF），至今发挥着重要作用[2]。随着地质实验室分析仪器的不断革新，上海X荧光检测仪，经广大XRF工作人员共同努力，80年代中期XRF技术成为能“替代”传统化学方法的岩矿全分析的主导方法[3]。90年代XRF仪器分析技术开始在实验室广泛应用，XRF仪器软件性能更加完善，技术日趋成熟[4]。进入21世纪，大部分无机元素分析由原来80年代常规的原子吸收光谱仪（AAS）分析完成的，开始普遍采用电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）与现代化多类型X射线荧光光谱仪分析，使得XRF分析技术具有多元素分析特点。
表3中可以看出同一样品制备10次测得的分析结果极差值≤允差值，认为制样方法是可行的。
2.5、仪器稳定性的效验和准确度的测试，在分析仪使用之前必须进行此项工作。用已有准确分析结果的试样50克，放入料钵内（不放两个钢圈）运行3min后，分成四份制成压片进行测量，测量结果见附表4
同一试样混匀后分四份制片后用荧光仪的测量结果
从表4可以看出几组样子误差特别小，说明仪器的稳定性很好。
2.6、建立应用程序（标准曲线）
X—荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量已准确得知化学分析结果的标样，由计算机所获得的特征X射线强度数据进行一系列的数学处理，计算得出工作曲线。建立应用程序（标准曲线）是荧光仪准确分析的基础，应注意以下几个问题：
（1）选取具有代表性的标准样品。每组曲线至少要八个以上的样品（我公司做每组曲线时至少选取10个以上的标准样品），且要在实际生产所用的矿区采样，使其分析样品的物理性能相同，各元素含量范围应覆盖实际生产所能达到的范围，尽可能在生产控制指标的中部，以保证分析的准确性。
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