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上海天然气地质X荧光分析仪 欢迎来电 上海赢洲科技供应

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所在地: 上海市
***更新: 2020-04-01 11:35:08
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产品详细说明

1.4.3 吸收片的使用

当样品中与待测元素原子序数相邻的元素含量很高时,可用吸收片作共振吸收来改善测量精度。吸收片的利用可以提高元素分析灵敏度,减少干扰元素的影响。

1.4.4 其它注意事项

同步辐射光的高亮度,对于元素含量低的样品非常有利,可以减少测量时间,提高灵敏度,上海天然气地质X荧光分析仪。但对于含量丰富的样品,过多的X射线荧光会导致探测器和电子学系统的饱和,上海天然气地质X荧光分析仪。可以采取加吸收片、减小入射光强,上海天然气地质X荧光分析仪、增加探测器和样品的距离、减小探测器的立体角等方法,防止探测器饱和。

X射线荧光分析中激发X射线的方式一般有三种:(1)用质子、粒子或其他离子激发;(2)用电子激发;(3)用X射线或低能射线激发。

X荧光分析的特点:(1)灵敏度高:比紫外-可见分光光度法高2~4个数量级;(2)选择性强:既可选择发射光谱,又可选择吸收光谱;(3)试样量少;(4)缺点:应用范围小。

1.3 X射线荧光分析的定性和定量分析

1.3.1 定性分析

定性分析是用测角仪进行角度扫描,通过晶体对X射线荧光进行分光,记录仪记录谱图,再解析谱图中的谱线以获知样品中所含的元素。莫莱斯定律是定性分析的基础,它指出了特征X射线的波长与元素原子序数的一一对应关系。元素的荧光X射线的波长(l),随元素的原子序数(Z)增加有规律地向短波方向移动。






   

X射线荧光光谱分析在地质分析中的应用

摘 要:X射线荧光光谱分析(XRF)是一种利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(二次X射线),从而对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。XRF已成为现代仪器分析技术中的一种常规且非常重要的方法,广泛应用于冶金、地质、有色、建材等各个领域,本文主要介绍X射线荧光光谱分析的原理及其在地质分析中的应用。

关键词:X射线;荧光光谱分析;地质分析、金属材料、再生资源金属、高铁工程、飞机制造、锅炉压力容器、玻璃回收等。

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